Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。特別是最近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。
>> EDX-720/800HS/900HS配備自動開關(guān)式大型樣品室，可放入300mmφ×150mmH的樣品。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備從薄膜分析到有機(jī)分析的定量分析軟件。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備無需標(biāo)準(zhǔn)樣品的含量匹配軟件。 |
>> 標(biāo)準(zhǔn)配備實(shí)現(xiàn)高靈敏度分析的5種濾光片。可提高氯(Cl)、鎘(Cd)等的檢測靈敏度。 |
>> 結(jié)構(gòu)緊湊的臺式機(jī)，主機(jī)尺寸為W580×D650×H420mm。 |
>> 樣品圖像觀察采用CCD裝置，便于觀察樣品位置。特別有助于確認(rèn)微小部分的分析位置。 |
