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高壓加速老化試驗箱PCT和HAST試驗箱兩種試驗箱的區(qū)別比較

時間:2024/12/11閱讀:278
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  高壓加速老化試驗箱PCT和HAST試驗箱在多個方面存在顯著差異,以下是對這兩種試驗箱的詳細比較:
 
  一、試驗環(huán)境與條件
 
  PCT試驗箱
 
  溫度:通常在110℃-130℃之間,也有設定為121℃的情況,相對較低。
 
  濕度:接近100%RH,處于飽和高濕狀態(tài)。
 
  壓力:一般在2個大氣壓(即211.6kPa或21.16bar)左右,也有表述為2.1atm的情況。
 
  HAST試驗箱
 
  溫度:一般在110℃-150℃甚至更高,溫度范圍更寬且能達到更高溫。
 
  濕度:通常在85%RH以上,但一般未達到飽和狀態(tài),可調范圍通常為70%~100%RH。
 
  壓力:相對較低,通常在0.2MPa0.5MPa(即25bar)之間。
 
二、試驗目的與應用范圍
 
  PCT試驗箱
 
  目的:主要用于評估產品在高溫高濕高壓環(huán)境下的密封性、防潮性能以及材料的耐濕熱老化能力。
 
  應用范圍:常用于對電子產品的封裝、塑料材料、涂料等進行耐濕熱測試,尤其適用于對密封性要求較高的產品,如電子元器件、電路板、半導體器件等。
 
  HAST試驗箱
 
  目的:更側重于快速暴露產品潛在的可靠性問題,如封裝不良、材料老化、金屬腐蝕等,加速模擬電子產品在惡劣環(huán)境下的使用情況。
 
  應用范圍:廣泛應用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產品的可靠性評估,特別是高可靠性要求的航空航天、汽車電子、醫(yī)療設備等領域。
 
  三、試驗時間與效果
 
  PCT試驗箱
 
  試驗時間:相對較長,一般需要數十個小時甚至更長,才能展現(xiàn)產品的老化情況。
 
  效果:由于高濕高壓環(huán)境,對產品的密封性和防潮性能考驗更為嚴格,能更直接地檢測出產品在濕熱環(huán)境下的潛在問題。
 
  HAST試驗箱
 
  試驗時間:較短,通常為幾十個小時到幾百個小時不等,能在更短時間內加速產品老化。
 
  效果:通過更高的溫度和一定的濕度、壓力組合,能快速激發(fā)產品內部的各種潛在缺陷,加速產品的失效過程,為產品的改進和優(yōu)化提供更迅速的反饋。
 
  四、設備構造與特點
 
  PCT試驗箱
 
  構造:一般采用不銹鋼材料或高溫合金材料構建,內膽采用圓弧設計,符合國家安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現(xiàn)象。配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規(guī)格尺寸定制。
 
  特點:測試條件相對溫和,但測試時間較長。
 
  HAST試驗箱
 
  構造:通常使用耐腐蝕材料如鎳合金等構建,同樣采用圓弧內膽設計,并配備雙層不銹鋼產品架(也可根據客戶產品規(guī)格尺寸定制)。在優(yōu)化設計、做工精細度、傳感器配置、試樣架設計以及安全保護措施等方面也更為先進和完善。
 
  特點:測試條件更加嚴苛,測試時間較短,能快速展現(xiàn)產品的老化情況。
 
  綜上所述,PCT和HAST試驗箱在試驗環(huán)境與條件、試驗目的與應用范圍、試驗時間與效果以及設備構造與特點等方面均存在顯著差異。具體選擇哪種老化測試設備應根據產品的特性和需求來決定。
 

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