材質(zhì)：碳鋼
尺寸：300mmL*100mmW*25mmT
主要用于：
1）R100測定斜探頭的入射點和前沿長度
2）50mm和1.5mm通孔測定斜探頭的折射角
3）25mm測定探傷儀的水平，垂直線性和動態(tài)范圍，縱波掃描范圍和速度
4）R50和R100曲面調(diào)節(jié)探測范圍和掃描速度
5）直徑50mm，44mm和40mm三個臺階孔測定斜探頭
CSK-IA超聲波檢測試塊
超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測報告 | |||
| 1 | 本體材料化學(xué)成分 | 主要化學(xué)成分應(yīng)符合GB699 | 合格 |
| 2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經(jīng)正火處理后，晶粒度應(yīng)達(dá)到7級以上。 | 合格 |
| 3 | 本材料內(nèi)部缺陷 | 使用5MHZ直探頭，對試塊進(jìn)行接觸法超聲波探傷，不得出現(xiàn)大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 |
| 4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 | 合格 |
| 5 | 有機(jī)玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 | 長溫下,有機(jī)玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當(dāng)與20（45）號鋼50mm厚度的縱波時間 | 合格 |
| 6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm | 合格 |
| 7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB | 合格 |
| 8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
| 9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 | 合格 |
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機(jī)油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級 | |||
備注:校準(zhǔn)（檢驗）所用主要計量標(biāo)準(zhǔn)器
1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標(biāo)測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
環(huán)保在線