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Freiberg XRD--SDCOM--小晶體樣品臺式X射線單晶定向儀

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更新時間:2024-04-02 17:41:47瀏覽次數:232次

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產品簡介

在晶圓片的注入和光刻過程中,需要平面或凹槽作為定位標記。切割過程中,晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關重要。

詳細介紹

技術特點

l 能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品

l 各種樣品架及輸送夾具,用于線鋸、拋光等

l 側晶方向標記選項

l 無水冷卻

l **精度:0.01°(視晶體質量而定)

l 確定單晶的晶格取向

l 使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量

l 氣冷式X射線管,無需水冷

l 適合于研究和生產質量控制

l 手動操作(沒有自動化選項)



可測量材料的例子

? 立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP 

        

? 立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

 

? 正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4

 

? 六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(藍寶石),GaPO4, La3Ga5SiO14

 

? 斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3

 

? 可根據客戶的要求進一步選料


平面方向的標記和測量

 

在晶圓片的注入和光刻過程中,需要平面或凹槽作為定位標記。切割過程中,晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關重要。

 

為了確定平面或缺口的位置,就需要測量平面內的部件。由于Omega掃描法可以在一次測量中確定完整的晶體方位,基于此,便可以直接識別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。

 

DDCOM通過旋轉轉盤,可以將任何平面方向轉換成用戶的特定位置。在必須定義平面方向的情況下,這可以**簡化將標記應用到特定平面方向的過程。



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