特點：
可垂直上下移動
特殊恒定負載的彈簧探針
恒定的探針間距
可保持極大程度的重復性測試
探頭方便更換
探針臺頂部可調整Z軸移動
穩固的連接線在探針臺后面
轉接頭可選擇：Banana/ BNC/ Triaxial Female
卡盤可快速移動
可以配合加熱吸盤使用
卡盤尺寸可以選擇：6英寸、8英寸、12英寸
氣動的SR-4可用開關控制升降
應用：
表面電阻率測試
薄膜切片電阻率測試
半導體摻雜特性的測試
金屬層厚度的測試
測試半導體類型：P型/N型
電壓/電流的測試
詳細說明：
卡盤尺寸可選擇：6英寸、8英寸、12英寸；材料；特氟龍
探針升降長度：10毫米
探針臺Z軸升降精度為：1微米
探針材質：碳化鎢、鈹銅合金
探針距離：40mil、50mil、62.5mil
彈簧探針力度：45grams、85grams、180grams
探針直徑：40.6微米
規格：
尺寸：220mm長x420mm寬x250mm高
重量：20Kg
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