α、β輻射表面污染檢測(cè)儀/射線檢測(cè)儀 技術(shù)資料

【資料簡(jiǎn)介】

【簡(jiǎn)單介紹】

適用于低水平α、β輻射表面污染檢測(cè)。儀器采用外接探測(cè)器，能自動(dòng)識(shí)別所接的探測(cè)器類型并對(duì)遮光膜破裂具有檢測(cè)功能，對(duì)α、β的測(cè)量具有很高的探測(cè)效率，是環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、核醫(yī)學(xué)、分子生物學(xué)、放射化學(xué)、核原料運(yùn)輸、儲(chǔ)存和商檢等領(lǐng)域進(jìn)行α、β輻射表面污染檢測(cè)的理想儀器。該儀器采用單片機(jī)控制，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的連續(xù)采集、存儲(chǔ)，并可隨時(shí)查詢

【詳細(xì)說明】

技術(shù)參數(shù)：

 

探 測(cè) 器ZnS閃爍體

 

探測(cè)器面積50.0cm2

 

探測(cè)效率Eα≥35%（2л，239Pu面源）

 

Eβ≥35% （2л，90Sr-90Y面源）

 

測(cè)量本底α本底≤3cpm,β本底≤2cps

 

測(cè)量時(shí)間1、10、20、60、120秒可選

 

顯示單位Bq／cm2 , CPS , CPM ,Bq