XR70-WLP2071型平均粒度測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)

【資料簡(jiǎn)介】

XR70-WLP2071型平均粒度測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)

XR70-WLP2071型平均粒度測(cè)試儀是一種利用空氣透過原理制成的測(cè)試粉末平均粒度的儀器。儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、不需復(fù)雜計(jì)算、測(cè)試速度快、性能穩(wěn)定，廣泛地應(yīng)用于磁性材料、粉末冶金、鎢鉬材料、難熔金屬、硬質(zhì)合金、制藥、陶瓷、水泥、有色金屬、非金屬、化合物等工業(yè)上和*的平均粒度測(cè)試儀（費(fèi)氏儀） 

平均粒度測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)： 

1、精度： 3% 

2、測(cè)試范圍： 0.2-50 μ m （微米） 

　　 *檔： 0.2-20 μ m 

　　 第二檔： 20-50 μ m 

3.孔隙度范圍：0.95－0.80

　　　　　　　0.80－0.40

　　　　　　　0.40－0.25 

4、準(zhǔn)確度：± 3% 

5、環(huán)境濕度：相對(duì)濕度 <80% 

6、環(huán)境溫度： 25 ± 10 ℃ 

7、電源： ～220 ± 22V 50赫茲

8、功率： 25W 

9、重量： 18kg 

10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3